Frontini Luca

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  • Stuck-At Fault Mitigation of Emerging Technologies Based Switching Lattices / L. Anghel, A. Bernasconi, V. Ciriani, L. Frontini, G. Trucco, I. Vatajelu. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 36(2020 Sep), pp. 313-326.
  • Test results and prospects for RD53A, a large scale 65 nm CMOS chip for pixel readout at the HL-LHC / M.B. Barbero, D. Fougeron, S. Godiot, M. Menouni, P. Pangaud, A. Rozanov, P. Breugnon, M. Bomben, G. Calderini, F. Crescioli, O. Ledortz, G. Marchiori, D. Dzahini, F.E. Rarbi, R. Gaglione, H. Krüger, M. Daas, Y. Dieter, T. Hemperek, F.H.K. Moustakas, D. Pohl, P. Rymaszewski, M. Standke, M. Vogt, T. Wang, N. Wermes, M. Karagounis, A. Stiller, C. Marzocca, G. De Robertis, F. Loddo, F. Licciulli, A. Andreazza, V. Liberali, A. Stabile, L. Frontini, M. Bagatin, D. Bisello, S. Gerardin, S. Mattiazzo, A. Paccagnella, D. Vogrig, S. Bonaldo, N. Bacchetta, L. Gaioni, F. De Canio, M. Manghisoni, V. Re, E. Riceputi, G. Traversi, L. Ratti, C. Vacchi, K. Androsov, R. Beccherle, G. Magazzu, M. Minuti, F. Morsani, F. Palla, S. Poulios, G.M. Bilei, M. Menichelli, S. Marconi, P. Placidi, G. Dellacasa, N. Demaria, G. Mazza, E. Monteil, L. Pacher, A. Paternò, A. Rivetti, M.D. Da Rocha Rolo, D. Gajanana, V. Gromov, B. van Eijk, R. Kluit, A. Vitkovskiy, T. Benka, M. Havranek, Z. Janoska, M. Marcisovsky, G. Neue, L. Tomasek, V. Kafka, V. Vrba, E. Lopez-Morillo, F.R. Palomo, F. Muñoz, I. Vila, E.M.S. Jiménez, D.A.J. Christiansen, S. Orfanellil, M. Jara Casas, E. Conti, S. Bell, M.L. Prydderch, S. Thomas, D.C. Christian, G. Deptuch, F. Fahim, J. Hoff, R. Lipton, T. Liu, T. Zimmerman, S. Miryala, M. Garcia-Sciveres, D. Gnani, A. Krieger, K. Papadopoulou, T. Heim, R. Carney, B. Nachman, C. Renteira, V. Wallangen, M. Hoeferkamp, S. Seide. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 936(2019 Aug 21), pp. 282-285.
  • DESIGN AND SYNTHESIS OF HIGH DENSITY INTEGRATED CIRCUITS / L. Frontini ; tutor: G. Trucco ; co-tutor: V. Ciriani ; coordinatore: P. Boldi. - Milano : Università degli studi di Milano. DIPARTIMENTO DI INFORMATICA Giovanni Degli Antoni, 2019 Feb 01. ((31. ciclo, Anno Accademico 2018.
  • Fault Mitigation of Switching Lattices under the Stuck-At-Fault Model / L. Anghel, A. Bernasconi, V. Ciriani, L. Frontini, G. Trucco, I. Vatajelu - In: 2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS)[s.l] : IEEE, 2019. - ISBN 9781728117560. - pp. 1-6 (( convegno Latin American Test Symposium tenutosi a Santiago nel 2019.
  • Testability of Switching Lattices in the Stuck at Fault Model / A. Bernasconi, V. Ciriani, L. Frontini - In: 2018 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)[s.l] : IEEE, 2019. - ISBN 9781538647561. - pp. 213-218 (( Intervento presentato al 26. convegno IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC tenutosi a Verona nel 2018.