Instrumental methods for the analysis of materials and of surfaces

Il corso sarà principalmente dedicato all'approfondimento dell'applicazione di alcuni metodi analitici strumentali per la caratterizzazione di materiali sia inorganici che organici. In particolare, verranno discussi alcune applicazioni avanzate delle spettroscopie Raman, FTIR, elettroniche e di fluorescenza. Uno dei punti principali di questa sezione sarà la micro-distruttività/non distruttività - così come la possibile portabilità, e quindi l'applicazione in-situ delle diverse tecniche. Questo si applica soprattutto per quei casi in cui la capacità di eseguire le analisi nella sede in cui i campioni si trovano è una caratteristica distintiva.
Inoltre, verranno presentate alcune tecniche "hyphenated" non comuni in cui gli spettrometri sono usati come rivelatori, come ad esempio GC-FTIR o HPLC-FTIR; a questo proposito, saranno sottolineati in particolare vantaggi, svantaggi e risultati dell'utilizzo di tali metodi e confrontati con le più usuali tecniche "hyphenated" GC-MS e HPLC-MS.
Per quanto riguarda l'analisi elementare, verranno affrontate le spettroscopie XRF e micro-XRF e il loro utilizzo nella caratterizzazione qualitativa e semiquantitativa dei materiali.
Infine, verrà presentata una panoramica che rappresenti come la microscopia elettronica a scansione sia adatta sia per l'analisi dei materiali che per quella delle superfici, soprattutto se accoppiata a diversi rivelatori e sonde (elettroni retrodiffusi e secondari, EDX, elettroni Auger).
Nell'ambito del corso, per ogni argomento verranno presentati anche diversi lavori di ricerca originali e casi di studio.